金相顯微鏡材料分析顆粒測量

金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

金相學(xué)主要指借助光學(xué)（金相）顯微鏡和體視顯微鏡等對材料顯微組織、低倍組織和斷口組織等進行分析研究和表征的材料學(xué)科分支，既包含材料顯微組織的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的樣品制備、準(zhǔn)備和取樣方法。其主要反映和表征構(gòu)成材料的相和組織組成物、晶粒（亦包括可能存在的亞晶）、非金屬夾雜物乃至某些晶體缺陷（例如位錯）的數(shù)量、形貌、大小、分布、取向、空間排布狀態(tài)等。

特點：

1.采用上 的無限遠雙重色彩校正及反差增強型光學(xué)系統(tǒng)，為用戶提供 銳利的圖像。

2.采用5種上部部件和3種下部部件及兩個立柱組合方式，可根據(jù)您對材料檢測的要求和經(jīng)濟成本進行任意靈活的組合，可實現(xiàn)對透明材料、不透明材料以及熒光材料的分析，同時具有強大的升級空間，保證您未來的檢測要求。

3.業(yè)界 大式樣高度可達到380毫米的，給您提供非凡的操作空間。

4. 貼近用戶的靈活性，設(shè)備的部件升級無需專業(yè)人員，用戶可自行操作完成。

金相顯微鏡材料分析顆粒測量